詳細(xì)摘要: SAKI AOI光學(xué)檢測(cè)儀檢查項(xiàng)目:缺件、偏移、側(cè)立、立碑、表面刮痕、倒置、極反、贓物玷污、無(wú)錫少錫、短路、錯(cuò)件、橋連、光學(xué)字符識(shí)別、無(wú)錫膏、錫膏偏移、虛焊、元...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-11-18 在線留言
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詳細(xì)摘要: SAKI AOI光學(xué)檢測(cè)儀檢查項(xiàng)目:缺件、偏移、側(cè)立、立碑、表面刮痕、倒置、極反、贓物玷污、無(wú)錫少錫、短路、錯(cuò)件、橋連、光學(xué)字符識(shí)別、無(wú)錫膏、錫膏偏移、虛焊、元...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:深圳市更新時(shí)間:2022-11-18 在線留言詳細(xì)摘要: 振華興VCTA-A410離線式AOI檢測(cè)儀,離線型AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,高性價(jià)比。
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